专利简介:

一种电学器件，其特征在于，包括：绝缘基底，该绝缘基底具有相对的第一表面及第二表面；磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜，该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜设置在该第一表面，该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜的材料由化学式Cry(BixSb1?x)2?yTe3表示，其中0.05<x<0.3，0<y<0.3，且1:2<x:y<2:1，x与y的值选择为使铬在该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜中引入的空穴型载流子与铋在该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜中引入的电子型载流子基本相互抵消，该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜的载流子浓度为1×1013cm?2以下，该磁性掺杂拓扑绝缘体量子阱薄膜的厚度为3QL至5QL。

发明专利---未交费--未下证。
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