简要说明：CST-50冲击试样缺口投影仪是专用于检测冲击试样V、U型缺口的精密高效检测仪器。仪器光学系统质量优良，物镜成像清晰，放大倍率准确，是材料冲击试验必不可少的光学检测仪器。

随着国内工业技术的发展，越来越多的行业已经开始执行夏比V型缺口冲击试验方法，  日前国内诸如锅炉压力容器、冶金和机械等行业已普遍采用夏比V型缺口冲击试验取代使用了几十年的梅氏U型缺口冲击试验。

对于夏比V型缺口冲击试验，由于试样V型缺口要求严格（试样缺口深2mm、呈45°角且试样缺口尖端要求R0.25±0.025mm），故在整个试验过程中，试样的V型缺口加工是否合格成了关键问题，如果试样缺口的加工质量不合格，那么其试验的结果是不可信的，特别是R0.25mm缺口尖端的微小变化（其公差带只有0.025mm），都会引起试验结果的陡跳，尤其是在试验的临界值时会引起产品或报废或合格两种截然相反的结果。为保证加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工质量检验是一个重要的质量控制手段。

技术参数

1、 放大倍数：50×；

2、 投影屏直径：180mm；

3、 工作台尺寸：方工作台：110×125mm圆工作台：90mm  工作台玻璃直径：70 mm

4、   工作台行程：纵向：10 mm；  横向：10 mm；   升降：12 mm（无刻度）

5、   工作台转动范围：0 — 360°

6、   仪器放大倍率：50×    物镜放大倍率：2.5×    投影物镜放大倍率：20×

7、   光源（卤钨灯）：12V/100W

8、   电源：220V/50Hz

9、   外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）

10、              重量：约18kg

CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据日前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。

目前用光学投影放大检查是唯一切实可行并能保证检查质量的方法。CST-50型冲击试样缺口投影仪是我公司根据日前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属材料夏比缺口冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器。