| 详细介绍：
4.1.1.13 Grounding test:
FANUC A03B-0807-C001 输入为3 Pin(有FG者),一般均要测接地阻(Grounding test),安规规定FG到输出线材(输出端)的接地电阻不能超过100MΩ(2.5mA/3 Second).
4.1.1.14 温升记录
设计实验定案后(暂定),需针对整体温升及EMI做评估,若温升或EMI无法符合规格,则需重新实验.温升记录请参考附件,D5原来使用BYV118(10A/40V Schottky barrier 肖特基二极管 ),因温升较高改为PBYR1540CTX(15A/40V).
FANUC A03B-0807-C001 4.1.1.15 EMI测试:
EMI测试分为二类:
Conduction(传导干扰)
Radiation(幅射干扰)
前者视规范不同而有差异(FCC : 450K - 30MHz,CISPR 22 :150K - 30MHz),前者可利用厂内的频谱分析仪验证;后者(范围由30M - 300MHz,则因厂内无设备必须到实验室验证,Conduction,Radiation测试数据请参考附件) .
FANUC A03B-0807-C001 4.1.1.16 机构尺寸:
设计阶段即应对机构尺寸验证,验证的项目包括 : PCB尺寸、零件限高、零件禁置区、螺丝孔位置及孔径、外壳孔寸….,若设计阶段无法验证,则必须在样品阶段验证.
4.1.2 样品验证:
FANUC A03B-0807-C001 样品制作完成后,除温升记录、EMI测试外(是否需重新验证,视情况而定),每一台样品都应经过验证(包括电气及机构尺寸),此阶段的电气验证可以以ATE(Chroma)测试来完成,ATE测试必须与电气规格相符.
4.1.3 QE验证:
QE针对工程部所提供的样品做验证,工程部应提供以下交件及样品供QE验证.
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