本产品满足GB/T19394.-2003试验; GB/T9535.-1998试验; GB/T6492-1986、GB/T6494、GB/T6497、??? SJ/T2196; IEC61345-1998; IEC61646、IEC61215等国家标准,以及其它相关标准的要求。
严格按GB 10592—89《高低温试验箱技术条件》、GB10586-89《湿热试验箱技术条件》进行设计制造,同时符合IEC61215-2005温度,湿热相应标准参数可进行各种高低温湿热交变环境试验。
矽晶太陽能: IEC61215、 UL1703、GB9535
薄膜太陽能: IEC61646 、GB18911
聚光太陽能: IEC62108 、 IEEE1513
※ 相關試驗後皆須進行規範所要求的檢查項目(外觀、絕緣電阻、最大輸出功率)
Thermal cycle test(溫度循環測試)
目的:確定元件於溫度重複變化時,引起的疲勞和其他應力的熱失效。
溫度循環比較
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低溫
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高溫
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溫變率
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駐留時間
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循環數
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IEC61215
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-40±2℃
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85±2℃
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最大100℃/h
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最少10min
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50、200
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GB9535
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-40±2℃
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85±2℃
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最大100℃/h
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最少10min
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50、200
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IEC61646
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-40±2℃
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85±2℃
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最大100℃/h
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最少10min
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50、200
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GB18911
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-40±2℃
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85±2℃
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最大100℃/h
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最少10min
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50、200
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UL1703
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-40±2℃
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90±2℃
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最大120℃/h
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30~105min
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200
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IEC62108
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-40±2℃
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65℃、85℃、110℃
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10cycle/day
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10min
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500、1000、2000
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IEC62108
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-40℃
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65℃、85℃、110℃
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18cycle/day
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10min
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500、1000、2000
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IEEE1513
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-40℃
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90℃、110℃
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0.9~7.5℃/min
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最少10min
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250、500
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IEEE1513
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-40℃
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90℃、110℃
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最大100℃/h
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最少10min
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100、200
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IEEE1513
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-40℃
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60℃、90℃
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最大100℃/h
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最少10min
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50、200
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Humidity-freeze test(濕冷凍測試)
目的:確定元件承受高溫、高濕之後以及隨後的零下溫度影響的能力。
溫度循環比較
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高溫高濕
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低溫
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溫變率
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循環數
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IEC61215
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85℃/85±5%(20h)
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-40℃(0.5~4h)
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高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
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10
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GB9535
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85℃/85±5%(20h)
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-40℃(0.5~4h)
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高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
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10
|
IEC61646
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85℃/85±5%(20h)
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-40℃(0.5~4h)
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高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
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10
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GB18911
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85℃/85±5%(20h)
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-40℃(0.5~4h)
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高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
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10
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UL1703
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85℃/85±2.5%(20h)
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-40℃(0.5~4h)
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高溫升降溫(120℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
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10
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IEEE1513
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85℃/85±2.5%(20h)
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-40℃(0.5~4h)
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高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
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20
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IEC62108
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85℃/85±2.5%(20h)
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-40℃(0.5~4h)
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高溫升降溫(100℃/h)
低溫升降溫(200℃/h)
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20、40
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Damp Heat(濕熱測試)
85 ±2 ℃/85 ±5%/1000h ,目的:確定模組抵抗濕氣長期滲透之能力
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